López Fernández, Francisco (Date of defense: 1993-07-19)
Entre las técnicas microanalíticas, el SIMS ha experimentado un gran éxito en las dos últimas décadas. Su habilidad para proporcionar datos de composición elemental y estructura, su capacidad para ...
Pascual Miralles, Esther (Date of defense: 1991-12-18)
Este trabajo presenta una doble vertiente: por una parte, se ha diseñado y construido un elipsómetro espectral (visible-UV) automático que permite la caracterización óptica de materiales en volumen, en ...
Rojas Tarazona, Fredy E. (Date of defense: 2014-11-14)
Este trabajo se enmarca dentro de la modelización óptica y estructural de capas delgadas semiconductoras, particularmente de óxidos conductores transparentes del tipo ZnO y ZnO:Al, así como de capas ...
Hernández Márquez, Sergi (Date of defense: 2003-05-29)
Los materiales del sistema (In,Ga)As han presentado un gran interés en los últimos años debido al amplio rango de aplicaciones que presentan como dispositivos optoelectrónicos. La implantación iónica ...