Ara mostrant els elements 1-6 de 6
López Fernández, Francisco (Data de defensa: 1993-07-19)
Entre las técnicas microanalíticas, el SIMS ha experimentado un gran éxito en las dos últimas décadas. Su habilidad para proporcionar datos de composición elemental y estructura, su capacidad para ...
Bertomeu i Balagueró, Joan (Data de defensa: 1993-03-25)
Aquest treball presenta un estudi ampli sobre les estructures multicapa basades en semiconductors amorfs, en concret les formades per silici amorf hidrogenat i els aliatges d'aquest material amb ...
Romano Rodríguez, Albert (Data de defensa: 1991-03-14)
In the last decade transmission electron microscopy (TEM) has become one of the most powerful tools for the structural characterization of crystalline materials. Especially in the field of microelectronics ...
Roldán Molinero, Rubén (Data de defensa: 2013-12-12)
El diseño de un sistema de generación eléctrica fotovoltaica requiere la estimación precisa de la producción eléctrica. Las especificaciones técnicas de los módulos proporcionan los parámetros eléctricos ...
Lluscà Jané, Marta (Data de defensa: 2015-07-10)
The objective of this work was to study two different light management approaches to enhance the efficiency of thin film Si solar cells and these were the manipulation of the light path (light trapping) ...
Nos Aguilà, Oriol (Data de defensa: 2013-01-07)
The first block of this thesis deals with the study of the degradation process of tungsten catalytic filaments in the field of silicon deposition with the Hot Wire Chemical Vapour Deposition (HWCVD) ...