Nanoscale properties of self-assembled and laterally nanostructured surface systems 

Paradinas Aranjuelo, Marcos (Data de defensa: 2014-11-24)

Las microscopías de campo cercano en general (SPM) y la microscopia de fuerzas (SFM) en particular, se han convertido en una poderosa herramienta en nanotecnología, ya que permiten tanto caracterizar como manipular las ...