1. Inici
  2. Universitat Autònoma de Barcelona
  3. Departament d'Enginyeria Electrònica
  4. Visualitzant Departament d'Enginyeria Electrònica per autor/a

Visualitzant Departament d'Enginyeria Electrònica per autor/a "Perpiñá Giribet, Xavier"

Ara mostrant els elements 1-1 de 1

    Internal IR-laser Deflection Measurements of Temperature and Free-Carrier Concentration in Power Devices 

    Perpiñá Giribet, Xavier (Data de defensa: 2005-07-20)

    La caracterització dels dispositius semiconductors té un paper preponderant dintre la microelectrònica, sobretot en els dipositius semiconductors de potència, on la caracterització electrotèrmica és primordial. En moltes ...