Internal IR-laser Deflection Measurements of Temperature and Free-Carrier Concentration in Power Devices 

Perpiñá Giribet, Xavier (Date of defense: 2005-07-20)

La caracterització dels dispositius semiconductors té un paper preponderant dintre la microelectrònica, sobretot en els dipositius semiconductors de potència, on la caracterització electrotèrmica és primordial. En moltes ...