Caracterización óptica de capas finas de carbono amorfo hidrogenado mediante elipsometría espectroscópica 

Pascual Miralles, Esther (Date of defense: 1991-12-18)

Este trabajo presenta una doble vertiente: por una parte, se ha diseñado y construido un elipsómetro espectral (visible-UV) automático que permite la caracterización óptica de materiales en volumen, en forma de capa fina ...