Contribució a la caracterització del microscopi de força atòmica 

    Barcons Xixons, Víctor (Date of defense: 2013-10-31)

    Des de la seva creació, el microscopi de força atòmica (AFM) ha estat àmpliament utilitzat sobretot per la caracterització de superfícies, obtenint imatges topogràfiques amb una resolució espacial de l’ordre o fins i tot ...