Enhancement of defect diagnosis based on the analysis of CMOS DUT behaviour 

Arumí i Delgado, Daniel (Date of defense: 2008-07-11)

Les dimensions dels transistors disminueixen per a cada nova tecnologia CMOS. Aquest alt nivell d'integració complica el procés de fabricació dels circuits integrats, apareixent nous mecanismes de fallada. En aquest sentit, ...