2024-03-28T22:04:04Zhttps://www.tdx.cat/oai/requestoai:www.tdx.cat:10803/67272017-09-23T02:04:54Zcom_10803_183col_10803_222
TDX (Tesis Doctorals en Xarxa)
author
Simó Mezquita, Ester
authoremail
ester@ma4.upc.edu
authoremailshow
false
director
Andrés Yebra, José Luis
2011-04-12T15:22:00Z
2009-07-24
1995-07-14
9788469256282
http://www.tdx.cat/TDX-0722109-103123http://hdl.handle.net/10803/6727
B.38093-2009
En este trabajo hemos realizado un estudio completo sobre la vulnerabilidad del diámetro de dos familias de grafos:<br/><br/>Los grafos impares y los n-cubo plegados. En el caso de los grafos impares, hemos probado que la eliminación de cualquier conjunto de vértices o ramas de cardinalidad k menor que el grado incrementa el diámetro de los subgrafos resultantes a lo sumo en dos unidades.<br/><br/>Asimismo, hemos estudiado como varían los parámetros d'k y d'k' cuando eliminamos k vértices o ramas del grafo.<br/><br/>Análogamente, para los grafos cubo plegado hemos estudiado como varían estos parámetros cuando eliminamos k vértices o ramas del grafo, para valores de k inferiores al grado del grafo. Por los resultados obtenidos podemos afirmar que ambas familias de grafos son adecuadas para la implementación de redes de interconexión tolerantes a fallos.<br/><br/>Otro estudio que hemos realizado en esta tesis trata sobre el diseño de redes densas fiables. Y hemos obtenido cuatro grafos (A,D,D,1) que mejoran cinco cotas presentadas en la tabla de grandes grafos (A,D,D,1).
spa
redes de interconexión
fiabilidad
grafos.
Vulnerabilidad del diámetro de ciertas familias de grafos
info:eu-repo/semantics/doctoralThesis info:eu-repo/semantics/publishedVersion
URL
https://www.tdx.cat/bitstream/10803/6727/1/TESM1de1.pdf
File
MD5
9fa26bcd27cde43ce074d816a88b5774
6455396
application/pdf
TESM1de1.pdf
URL
https://www.tdx.cat/bitstream/10803/6727/2/TESM1de1.pdf.txt
File
MD5
8f7416ac354c91b3bc2cfb662985d6f9
126538
text/plain
TESM1de1.pdf.txt