Moreno Pastor, José Antonio (Date of defense: 2000-09-14)
A lo largo de este trabajo se ha estudiado la metodología de análisis de óxidos de silicio mediante elipsometría, la espectroscopía infrarroja y la espectroscopía de fotoelectrones de rayos X (XPS). Se ...
Alarcón Lladó, Esther (Date of defense: 2009-07-07)
[spa] Esta tesis consiste en el estudio de las propiedades vibracionales de materiales de interés para la fabricación de dispositivos optoelectrónicos, operando en distintos rangos espectrales, desde ...